JK-TPS-2000型熱常數(shù)分析儀

         JK-TPS-2000型熱常數(shù)分析儀該儀器采用優(yōu)良的瞬變平面熱源法及縱向熱流技術(shù)，具有方便、快捷、精確的特點(diǎn)，可用來(lái)測(cè)量各種不同類型材料的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率以及熱熔，適用的熱導(dǎo)系數(shù)范圍0.01-200W/MK之間，適用樣品類型：固體、粉末、涂層、液體、各向異性材料等多種不同形式材料。參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO22007-2。

主要特點(diǎn)：

1. 直接測(cè)量瞬態(tài)熱傳播，測(cè)試時(shí)間在分秒之間。

2. 不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響

3. 無(wú)須特別的樣品制備，只需相對(duì)平整的樣品表面

4. 可用于固體、粉末、液體、各向異性材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。

技術(shù)要求及參數(shù)：

（1）一次測(cè)試可同時(shí)得到被測(cè)樣品導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)和比熱容（體積）三個(gè)數(shù)據(jù)；

（2）內(nèi)置精度不低于6位半的Keithley高精度萬(wàn)用表，可測(cè)最小電壓至0.1uV，最小直流電流至10nA；開關(guān)觸動(dòng)時(shí)間小于3ms；并配置最小測(cè)量精度為± 438nA的源表；數(shù)字化電壓取樣率為不低于90000/秒；設(shè)備安裝時(shí)需要檢查上述硬件，保證高精度原始數(shù)據(jù)的獲??；

（3）導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍≥0.005~1800 W/(m?K)；

（4）熱擴(kuò)散率≥0.01~1200mm2/S；

（5）比熱測(cè)量范圍≥0.01~5 MJ/(m3K)；

（6）*導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量精度≤± 3 %；

（7）熱擴(kuò)散率測(cè)量精度≤± 5 %；

（8）比熱測(cè)量精度≤± 7 %；

（9）導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量重復(fù)性≤1%

（10）具有結(jié)構(gòu)探頭功能，能夠一次測(cè)試得到2000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)組成的瞬態(tài)曲線，同時(shí)給出沿塊體材料厚度方向的導(dǎo)熱系數(shù)梯度變化曲線；

（11）具有 1 維測(cè)試功能，能夠精確測(cè)得直徑≤7 mm，高度≤50 mm 黃銅柱的導(dǎo)熱系數(shù)；

（12）測(cè)試環(huán)境：RT~400℃，控溫精度不低于±0.1℃，溫度波動(dòng)度不大于±1℃/h，溫度均勻性不大于±2℃；

（13）中溫測(cè)試環(huán)境的內(nèi)部空間不小于40L，且可以由主機(jī)自帶軟件自動(dòng)控制升降溫和測(cè)試過程。

（14）有效瞬態(tài)測(cè)試時(shí)間范圍≥12560S；有效瞬態(tài)功率≤10nW,且可在軟件中檢查；

（15）能夠原位測(cè)試，不需制樣或制樣工作很少；

（16）最小塊體樣品尺寸：厚度2 mm, 直徑 10 mm；同時(shí)能夠?qū)ψ畋?/span>75um的單層石墨薄膜、鋁塑膜等高導(dǎo)薄膜材料進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試；

（17）工作電壓：220 V, 50 Hz；

（18）可測(cè)樣品類型：固體、粉末、液體、膏狀物和復(fù)合材料等；

（19）探頭：雙螺旋圓形黃色聚酰亞胺覆膜探頭，主要元件為光刻鎳絲，且常溫探頭與導(dǎo)線應(yīng)是一體的，不接受黑色覆膜探頭或?qū)Ь€與探頭分開的設(shè)計(jì)，以免影響探頭使用精度和壽命；為應(yīng)對(duì)1mm以下高分子材料測(cè)試，應(yīng)提供半徑≤0.9mm的探頭；同時(shí)應(yīng)能提供19*16mm條帶探頭，便于測(cè)試樣品內(nèi)沿某一方向的導(dǎo)熱系數(shù)；